scanning force microscopies การใช้

ประโยค

1. Atomic force microscopy ( AFM ), a type of scanning force microscopy, was developed for mapping three-dimensional topographical variations in atomic surfaces with high resolution ( on the order of fraction of nanometers ).

คำอื่น ๆ

1. "scanning acoustic microscopies" การใช้
2. "scanning acoustic microscopy" การใช้
3. "scanning antenna" การใช้
4. "scanning beam" การใช้
5. "scanning dysarthria" การใช้
6. "scanning dysarthrias" การใช้
7. "scanning electron micrograph" การใช้
8. "scanning electron microscope" การใช้
9. "scanning electron microscopies" การใช้
10. "scanning electron microscopy" การใช้
11. "scanning force microscopy" การใช้
12. "scanning line" การใช้
13. "scanning linearity" การใช้
14. "scanning probe microscopy" การใช้
15. "scanning rate" การใช้
16. "scanning receiver" การใช้
17. "scanning sonar" การใช้
18. "scanning speech" การใช้
19. "scanning speed" การใช้